JIS C 5402-10-4 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１０－４部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験－試験１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ）｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
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JISC5402-10-4:2006の規格は,電子機器用コネクタの結合した複数のコンタクトに,100msから20sまでの規定する時間に過負荷電流が流れたときの能力を評価するための試験方法について規定。
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電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１０－４部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験－試験１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ） 規格 一覧表
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１０－４部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験－試験１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ）の一覧
最新 JISC5402-10-4:2006の更新 情報詳細
JIS C 5402-10-4：2006の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5402-10-4 | JIS改正 最新・更新日 | 2006/3/25 |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１０－４部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験－試験１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ） | ||
| 英語訳 | Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 10-4: Impact tests (free components), static load tests (fixed components), endurance tests and overload tests – Test 10d: Electrical overload (connectors) | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60512-10-4:2003(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2002/3/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5402-10-4:2006 | |
| ICS | 31.220.10 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2002-03-20(制定)，2006-03-25改正，2010-10-01(確認)，2015-10-20(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5402-10-4:2006の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 5402-1-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１部：一般試験－試験１ａ：外観 |
| JIS C 5402-1-100 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般－試験方法規格一覧 |
| JIS C 5402-13-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１３－１部：機械的動作試験－試験１３ａ：結合力及び離脱力 |
| JIS C 5402-2-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－１部：導通及び接触抵抗試験－試験２ａ：接触抵抗－ミリボルトレベル法 |
JIS C 5402-10-4:2006の引用国際規格一覧
- IEC 60512-7:1993
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
