JIS C 61326-2-1 最新規格 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第２－１部：個別要求事項－ＥＭＣ防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 61326-2-1の規格 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第２－１部：個別要求事項－ＥＭＣ防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC61326-2-1:2017の規格は,JISC61326-1の適用範囲に加えて,製造業者が指定する,操作上及び/又は機能上の理由によって電磁両立性(EMC)防護を施せない,(装置の内部及び/又は外部に)試験及び測定用の回路がある装置の,より詳細な試験配置,動作条件及び性能評価基準について規定。
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計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第２－１部：個別要求事項－ＥＭＣ防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準 規格 一覧表
計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第２－１部：個別要求事項－ＥＭＣ防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準の一覧
最新 JISC61326-2-1:2017の更新 情報詳細
JIS C 61326-2-1：2017の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 61326-2-1 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第２－１部：個別要求事項－ＥＭＣ防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準 | ||
| 英語訳 | Electrical equipment for measurement, control and laboratory use – EMC requirements – Part 2-1: Particular requirements – Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 61326-2-1:2012(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2017/10/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 61326-2-1:2017 | |
| ICS | 17.220.20，25.040.40，33.100.20 | JISハンドブック | 電気計測:2019，電磁両立性（EMC）:2018 |
| 改訂 履歴 | 2017-10-20(制定) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 61326-2-1:2017の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 61326-1 | 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第１部：一般要求事項 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
