JIS C 5410 最新規格 高周波同軸コネクタ通則|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 5410の規格 高周波同軸コネクタ通則の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC5410:1991の規格は,JISC5401に基づき電子機器に用いる高周波同軸コネクタの共通的事項及び電子機器用高周波同軸コネクタの個別規格に規定すべき事項について規定。

高周波同軸コネクタ通則 規格 一覧表

JIS C 5410

高周波同軸コネクタ通則の一覧

最新 JISC5410:1991の更新 情報詳細

JIS C 5410:1991の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 5410 JIS改正 最新・更新日 1991/8/1
規格名称 高周波同軸コネクタ通則
英語訳 General rules of connectors for radio frequency coaxial cables
対応国際規格 ISO IEC 60169-1:1987(MOD)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1970/10/1
略語・記号 No JIS C 5410:1991
ICS 33.120.10,33.120.30JISハンドブック 電子Ⅲ-2:2018
改訂 履歴 1970-10-01(制定),1973-10-01(確認),1976-10-01改正,1980-01-01(確認),1985-02-01(確認),1991-08-01改正,1996-07-01(確認),2001-09-20(確認),2006-01-20(確認),2010-10-01(確認),2015-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 5410:1991の関連規格と引用規格一覧

規格番号規格名称
JIS C 3501高周波同軸ケーブル(ポリエチレン絶縁編組形)
JIS C 5401-1電子機器用コネクタ-製品要求事項-第1部:品目別通則
JIS C 5401-2電子機器用コネクタ-第2部:品種別通則-丸形コネクタ-品質評価付
JIS C 5401-2-001電子機器用コネクタ-第2-001部:丸形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格
JIS C 5401-3電子機器用コネクタ-第3部:品種別通則-角形コネクタ-品質評価付
JIS C 5401-3-001電子機器用コネクタ-第3-001部:角形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格
JIS C 5401-4電子機器用コネクタ-第4部:品種別通則-プリント配線板用コネクタ-品質評価付
JIS C 5401-4-001電子機器用コネクタ-第4-001部:プリント配線板用コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格
JIS C 5402-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1部:一般
JIS C 5402-10-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第10-4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験-試験10d:電気的過負荷(コネクタ)
JIS C 5402-1-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-1部:一般試験-試験1a:外観
JIS C 5402-1-100電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-100部:一般-試験方法規格一覧
JIS C 5402-11-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性
JIS C 5402-11-10電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-10部:耐候性試験-試験11j:低温
JIS C 5402-11-11電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-11部:耐候性試験-試験11k:減圧
JIS C 5402-11-12電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-12部:耐候性試験-試験11m:温湿度サイクル
JIS C 5402-11-13電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-13部:耐候性試験-試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続
JIS C 5402-11-14電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食
JIS C 5402-11-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-2部:耐候性試験-試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス
JIS C 5402-11-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-3部:耐候性試験-試験11c:高温高湿(定常)
JIS C 5402-11-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-4部:耐候性試験-試験11d:温度急変
JIS C 5402-11-5電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-5部:耐候性試験-試験11e:かびの成長
JIS C 5402-11-6電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-6部:耐候性試験-試験11f:腐食,塩水噴霧
JIS C 5402-11-7電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食
JIS C 5402-11-8電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん
JIS C 5402-11-9電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-9部:耐候性試験-試験11i:高温
JIS C 5402-1-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-2部:一般試験-試験1b:寸法及び質量
JIS C 5402-12-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-1部:はんだ付け試験-試験12a:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法
JIS C 5402-12-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-2部:はんだ付け試験-試験12b:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだこて法
JIS C 5402-12-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-4部:はんだ付け試験-試験12d:はんだ耐熱性,はんだ槽法
JIS C 5402-12-5電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-5部:はんだ付け試験-試験12e:はんだ耐熱性,はんだこて法
JIS C 5402-12-6電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
JIS C 5402-12-7電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-7部:はんだ付け試験-試験12g:はんだ付け性,平衡法
JIS C 5402-1-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-3部:一般検査-試験1c:電気的接触長
JIS C 5402-13-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力
JIS C 5402-13-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-2部:機械的動作試験-試験13b:挿入力及び引抜力
JIS C 5402-13-5電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-5部:機械的動作試験-試験13e:極性及びキーイング
JIS C 5402-1-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-4部:一般検査-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)
JIS C 5402-14-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-2部:封止(気密性)試験-試験14b:封止(気密性)-微小エアリーク
JIS C 5402-14-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-4部:封止(気密性)試験-試験14d:浸せき-防水
JIS C 5402-14-5電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-5部:封止(気密性)試験-試験14e:浸せき(減圧)
JIS C 5402-14-6電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-6部:封止(気密性)試験-試験14f:インタフェーシャルシーリング
JIS C 5402-14-7電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水
JIS C 5402-15-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-1部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15a:インサート内のコンタクト保持
JIS C 5402-15-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-2部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向)
JIS C 5402-15-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-3部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)
JIS C 5402-15-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-4部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15d:コンタクトの挿入,解放及び引抜力
JIS C 5402-15-5電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-5部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)
JIS C 5402-15-6電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-6部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15f:コネクタカップリング機構の効果
JIS C 5402-15-8電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性
JIS C 5402-16-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-1部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16a:プローブダメージ
JIS C 5402-16-13電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-13部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16m:ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続
JIS C 5402-16-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16b:リストリクテッドエントリ
JIS C 5402-16-20電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)
JIS C 5402-16-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-3部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16c:コンタクト曲げ強度
JIS C 5402-16-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-4部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16d:引張強度(圧着接続)
JIS C 5402-16-5電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-5部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)
JIS C 5402-16-6電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-6部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16f:ターミネーション強度
JIS C 5402-16-7電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-7部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定
JIS C 5402-16-8電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-8部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)
JIS C 5402-16-9電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-9部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力
JIS C 5402-17-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-1部:ケーブルクランプ試験-試験17a:ケーブルクランプ強度
JIS C 5402-17-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-2部:ケーブルクランプ試験-試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
JIS C 5402-17-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-3部:ケーブルクランプ試験-試験17c:ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)
JIS C 5402-17-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-4部:ケーブルクランプ試験-試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
JIS C 5402-19-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性
JIS C 5402-20-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第20-2部:耐火性試験-試験20b:耐火性
JIS C 5402-2-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-1部:導通及び接触抵抗試験-試験2a:接触抵抗-ミリボルトレベル法
JIS C 5402-2-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-2部:導通及び接触抵抗試験-試験2b:接触抵抗-規定電流法
JIS C 5402-22-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第22-1部:静電容量試験-試験22a:静電容量
JIS C 5402-2-3電子機器用コネクタ―試験及び測定-第2-3部:導通及び接触抵抗試験-試験2c:接触抵抗の変動
JIS C 5402-23-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-3部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果
JIS C 5402-23-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-4部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23d:時間領域での伝送線路の反射
JIS C 5402-2-5電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-5部:導通及び接触抵抗試験-試験2e:コンタクトディスターバンス
JIS C 5402-2-6電子機器用コネクタ―試験及び測定-第2-6部:導通及び接触抵抗試験-試験2f:ハウジング(シェル)の導通性
JIS C 5402-3-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第3-1部:絶縁試験-試験3a:絶縁抵抗
JIS C 5402-4-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-1部:電圧ストレス試験-試験4a:耐電圧
JIS C 5402-4-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電
JIS C 5402-4-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-3部:電圧ストレス試験-試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)
JIS C 5402-5-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-1部:電流容量試験-試験5a:温度上昇
JIS C 5402-5-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-2部:電流容量試験-試験5b:電流・温度の軽減
JIS C 5402-6-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-1部:動的ストレス試験-試験6a:加速度(定常)
JIS C 5402-6-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-2部:動的ストレス試験-試験6b:バンプ
JIS C 5402-6-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-3部:動的ストレス試験-試験6c:衝撃
JIS C 5402-6-4電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-4部:動的ストレス試験-試験6d:正弦波振動
JIS C 5402-7-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第7-1部:衝撃試験(可動形コネクタ)-試験7a:自由落下(繰返し)
JIS C 5402-7-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第7-2部:衝撃試験(可動形コネクタ)-試験7b:機械的衝撃強さ
JIS C 5402-8-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第8-1部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8a:静的な力,横方向
JIS C 5402-8-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第8-2部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8b:静的な力,軸方向
JIS C 5402-8-3電子機器用コネクタ-試験及び測定-第8-3部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8c:操作レバーの強度
JIS C 5402-9-1電子機器用コネクタ-試験及び測定-第9-1部:耐久試験-試験9a:機械的動作
JIS C 5402-9-2電子機器用コネクタ-試験及び測定-第9-2部:耐久試験-試験9b:電気的負荷及び温度

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

光受動部品及び光コネクタ試験方法、光受動部品、光コネクタ、光能動部品、光複合部品

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